Außergewöhnliche Empfindlichkeit, hohe räumliche Auflösung

Die Yokogawa Test & Measurement Corporation gibt die Markteinführung ihres hochauflösenden Reflektometers AQ7420 bekannt.

Das AQ7420 nutzt die OLCR-Technologie (Optical Low Coherence Reflectometry) und ist ideal für die Analyse der internen Struktur von optischen Modulen sowie die Visualisierung von Mikrorissen in optischen Steckern geeignet. Der Messbereich von 100mm ist dabei optimiert auf Stecker und aktive sowie passive optische Komponenten. Mit einer beeindruckenden räumlichen Auflösung von 40 µm und einer außergewöhnlichen Empfindlichkeit bei der Messung der Reflexion bis zu -100 dB, bleibt es frei von optischen Artefakten. Durch die optionale Sensorkopfeinheit ermöglicht das AQ7420 die gleichzeitige Messung von Reflexion und Einfügedämpfung, wodurch es sich als hocheffiziente und kostengünstige Lösung für den Bereich der optischen Reflexionsmessung auszeichnet.

Hintergrund der Entwicklung

Yokogawa Test & Measurement setzt kontinuierlich auf Kundenfeedback und Branchentrends, um innovative Lösungen im Einklang mit den Marktanforderungen zu entwickeln. Im Bereich der Silizium-Photonik und der Herstellung von Glasfaser-Steckverbindern wurde das Unternehmen auf mehrere neuen Anforderungen aufmerksam, die mit den bestehenden Marktlösungen nicht erfüllt werden konnten. Dazu gehörten: die noch stärkere Reduzierung von optischen Artefakten, die gleichzeitige Messung von Reflexion und Einfügedämpfung, eine verbesserte Stabilität der gemessenen Wellenformen und schnellere Messzeiten. Ziel war es, eine neue Lösung zu entwickeln, die diesen Anforderungen gerecht wird.

Das Ergebnis ist das neue hochauflösende Reflektometer AQ7420, dass in zwei Versionen erhältlich ist: mit einer Wellenlänge (1310 nm) und mit zwei Wellenlängen (1310 und 1550 nm). Außerdem gibt es eine Steuersoftware für Windows 11, einen optionalen Sensorkopf speziell für die Verlustmessung, verschiedene Anschluss-Fasern (kompatibel mit einer Vielzahl von Steckertypen) und einer Auswahl an Fasern für das Shiften der Startposition des 100mm Messbereiches innerhalb des Messobjektes.

Die wichtigsten Merkmale

Eine der herausragendsten Neuerungen des AQ7420 ist die signifikante Reduzierung von Artefakten. Bei herkömmlichen, auf der OLCR/OFDR-Technologie basierenden Geräten können oft (je nach verwendetem Gerät) optische Artefakte (Geisterreflexionen) in Bereichen auftreten, in denen es keine tatsächliche Reflexion gibt, was zu Fehleinschätzungen führen kann. In solchen Situationen ist die korrekte Analyse der Wellenform stark von der Erfahrung  der Anwender abhängig. Im Gegensatz dazu verfügt das neue AQ7420 über eine Technologie, die optische Artefakte erheblich reduziert, wodurch die Analyse und Bewertung stark vereinfacht wird.

Hervorzuheben ist außerdem die Möglichkeit, Reflexion und Einfügedämpfung gleichzeitig zu messen. Herkömmliche OLCR/OFDR-Instrumente sind oft nicht in der Lage, die Stärke der Reflexion genau zu bestimmen, da die Messgenauigkeit des Reflexionspegels zu gering ist. Das hochauflösende Reflektometer AQ7420 begegnet diesem Problem, indem es Messungen mit einer Genauigkeit von ±3 dB ermöglicht. Durch die Nutzung des optischen Sensorkopfes kann der Benutzer außerdem gleichzeitig die Einfügedämpfung mit einer Genauigkeit von ±0,02 dB messen.

Ein weiteres wichtiges Merkmal ist die kürzere Messzeit. Im Vergleich zur vorherigen Produktgeneration (AQ7410) ist die Messzeit des neuen hochauflösenden Reflektometers AQ7420 um etwa 50 % kürzer, d.h. etwa 6 Sekunden im Vergleich zu 12 Sekunden vorher.

Wichtige Zielmärkte

• Unternehmen und Einrichtungen, die auf dem Gebiet der Silizium-Photonik forschen
• Hersteller von optischen Komponenten und Steckverbinder
• Alle Unternehmen, die sich mit der Analyse defekter optischer Komponenten befassen

Anwendungen

• Erkennung der Position und Stärke von Reflexionen in optischen Steckern und optischen Modulen mit hoher Genauigkeit
• Visualisierung von Mikrorissen in optischen Steckverbindern, die mit Dämpfungsmessungen nicht sichtbar sind
   

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